Parution: David Peyron, Culture Geek

Parution

David Peyron, Culture Geek, FYP éditions

192 pages; 19,50 euros

Aujourd’hui, être geek est une identité culturelle revendiquée par un grand nombre d’adeptes de tout âge.

Certains geeks sont devenus des modèles de réussite sociale et professionnelle. Autrefois perçue comme minoritaire et péjorative, la culture geek est devenue tendance.

Les geeks sont désormais à l’avant-garde de nos usages.

Cet ouvrage remonte aux sources de cette nouvelle culture, en explique toutes les racines

et en explore toutes les facettes : la science-fiction, la fantasy, les jeux de rôles, les pulps,

les comics, les fanfictions, l’informatique, les jeux vidéo, les oeuvres fondatrices,

l’internet, les mèmes, les hackers, l’influence d’une culture populaire mondiale, le culte du détail,

le rapport aux objets, la culture participative, etc.

Il révèle ce qui fait lien dans la multitude des pratiques, d’attitudes, de passions, d’aspects positifs

comme péjoratifs, accolés au terme geek, et dévoile la différence entre l’identité geek féminine ou masculine.

Il montre que ce qui est commun à tous les geeks, c’est un parcours, une trajectoire sociale, des objets fondateurs, et aussi le partage de références et d’un imaginaire communautaire dans les sociétés

contemporaines marquées par l’individualisme.

Cette monographie très complète apporte un regard neuf et inédit sur l’émergence de la culture geek,

un phénomène culturel actuel majeur.

David Peyron est docteur en sciences de l’information et de la communication et titulaire d’un master en sociologie de l’art et de la culture.

Il est l’auteur d’une thèse sur la construction sociale de la culture geek.

Membre de l’Observatoire des mondes numériques en sciences humaines (OMNSH) et de l’Association internationale des chercheurs en littérature populaire et culture médiatique, il a collaboré à divers documentaires sur le mouvement geek.



Citer ce billet
Matthieu Letourneux (2013, 20 octobre). Parution: David Peyron, Culture Geek. LPCM. Consulté le 29 février 2024, à l’adresse https://doi.org/10.58079/r1ey